Samsung desarrolla un material detector de rayos X con baja exposición a la radiación

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***El nuevo material semiconductor perovskita * rentable, desarrollado con la Universidad Sungkyunkwan, tiene una sensibilidad 20 veces mayor para los rayos X, con una décima parte de la exposición a la radiación típica

Tegucigalpa,Honduras

Samsung Electronics anunció hoy que el Instituto Avanzado de Tecnología de Samsung (SAIT), en colaboración con la Universidad de Sungkyunkwan en Seúl, Corea, ha desarrollado un material detector que disminuye la exposición a la radiación a menos de 1/10 º de la cantidad normal típico para X- médica imágenes de rayos tales como fluoroscopia, radiografía digital, tomografía computarizada y otros equipos de radiología.

Los investigadores de SAIT desarrollaron un material semiconductor de perovskita que, además de ser significativamente más bajo en radiación, tiene una sensibilidad 20 veces mayor para los rayos X, y un precio más bajo en comparación con los detectores de panel plano convencionales. Además, aunque los detectores convencionales procesados ​​con un proceso de deposición en vacío, la tecnología utilizada para hacer películas delgadas de semiconductores, no permiten la extensión a un área grande debido a limitaciones técnicas, el nuevo material permite la ampliación según sea necesario mediante un proceso basado en soluciones como impresión o revestimiento de barras. La comercialización de esta tecnología ofrece la posibilidad de producir detectores de rayos X de baja dosis que pueden explorar todo el cuerpo de una vez.

«Para aplicar perovskita a los fotones de rayos X, que son altamente penetrables, el material debe ser 1,000 veces más grueso que el de una célula solar, mientras que es capaz de retener señales eléctricas por un tiempo lo suficientemente largo como para convertirlas en rayos X, «Dijo InTaek Han, vicepresidente de SAIT. «El nuevo método de síntesis desarrollado a partir de la investigación es un avance clave para el campo».news.samsung.comHondudiarioER

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